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方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新代產品,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質的薄層電阻。
方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準,門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成度穩源;帶回路有效正常示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的點。
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換,行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,從而提了測量結果的準確度。
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換,在計算機控制下行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換,在計算機控制下行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態的自動修正,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提